簡(jiǎn)要描述:在同級(jí)產(chǎn)品中,Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu),即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測(cè)量,從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。此外,Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來(lái)*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。
產(chǎn)品分類
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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技術(shù)參數(shù)
XY掃描器:
Z掃描器:
樣品臺(tái):
光學(xué)系統(tǒng):
電路系統(tǒng):
原子力顯微鏡 原子力顯微鏡
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